常規(guī)溫度狀態(tài)下晶振可推測(cè)的穩(wěn)定性及測(cè)量?jī)x器

來(lái)源：金洛鑫瀏覽：- 發(fā)布日期：2017-12-21 17:29:05【大中小】

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業(yè)內(nèi)的人都知道，晶振的溫度范圍是一個(gè)很重要的參數(shù)，不同的晶振可支持的溫度也不一樣，測(cè)試時(shí)如果超過(guò)晶體本身可承受的最高溫度，那么這顆貼片晶振或者插件晶振很可能會(huì)不起振。通常SMD晶體要比DIP插件更耐高溫，所以現(xiàn)在圓柱晶振和49S插件晶體逐漸被貼片石英晶振代替。而晶振只有在常溫的條件下，才能發(fā)揮最好的振蕩功能，常用的測(cè)量?jī)x器設(shè)備主要有波形量測(cè)與和頻譜分析頻率響應(yīng)。以下是晶振廠家金洛鑫電子提供的晶振常溫條件下穩(wěn)定性判斷技術(shù)性資料。

一、常溫產(chǎn)品特性：
常溫產(chǎn)品特性有時(shí)也稱為室溫產(chǎn)品特性，一般是指無(wú)源晶振在環(huán)境溫度為25℃，相對(duì)濕度為50%左右時(shí)所測(cè)量出來(lái)的電性能參數(shù)，主要是頻率，電阻，激勵(lì)功率相關(guān)性及電容比等指標(biāo)。
1.1、對(duì)于一條相對(duì)成熟的生產(chǎn)線來(lái)說(shuō)，貼片晶振在常溫下的頻率穩(wěn)定性一般不會(huì)出現(xiàn)問(wèn)題，比較常見(jiàn)的是產(chǎn)品的一致性（散差），尤其是高頻的小公差產(chǎn)品一致性往往不如人意。一致性考慮是多個(gè)產(chǎn)品的頻率公差，在測(cè)試系統(tǒng)中，觀察FL的正態(tài)分布圖可以很直觀的了解產(chǎn)品的一致，也可以使用儀器測(cè)試系統(tǒng)中的CPK計(jì)算功能，通過(guò)CPK來(lái)衡量產(chǎn)品的一致性。
1.2、常溫下石英晶振的頻率主要是觀察其穩(wěn)定性與一致性。穩(wěn)定性是相對(duì)于單個(gè)產(chǎn)品而言，一方面要求產(chǎn)品在測(cè)試儀上重復(fù)測(cè)試時(shí)，頻率變化量要小，好產(chǎn)品頻率變化量可以小于±0.5ppm，與產(chǎn)品頻率高低及TS大小有關(guān)，一般情況下，頻率越高變化量越大，TS越大變化量越大，測(cè)量指標(biāo)一般是FL，若是FR則不存在TS的問(wèn)題；另一方面要求產(chǎn)品在電路中工作時(shí)不出現(xiàn)頻率漂移，也就是說(shuō)產(chǎn)品頻率不要跑到幾百甚至幾千ppm去，一般情況下只有高頻（27M以上）石英貼片晶振才會(huì)有這個(gè)問(wèn)題，尤其是3RD產(chǎn)品。如果頻率不穩(wěn)定，偏移的幅度上百ppm或同時(shí)伴有C0偏小現(xiàn)象，應(yīng)考慮膠點(diǎn)是否松動(dòng)。
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